Датчики температуры и вибрации

Узлы управления ЭПУУ-7, ЭПУУ-8

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов


Продукция > Оптико-физические измерения > Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Наименование:

Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов

Обозначение:

Технические условия:

Назначение:

Для измерений с пикосекундным и фемтосекундным временным разрешением соответственно нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка, отвечающих за процесс самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниковых образцах, представляющих собой тонкие пленки толщиной 5-100 мкм.

Стоимость Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов запрашивайте по телефону или e-mail.


Сделать заказ и запросить подробные технические характеристики Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов Вы можете здесь.

Возможно, Вас также заинтересуют:
Назад
ООО Прибор. Поставки КИПиА и электротехнического оборудования.
Тел.(4812)386407. Факс(4812)385745. E-mail: mail@ooo-pribor.ru.

Яндекс.Метрика