Наименование:

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии

Обозначение:

–

Технические условия:

тех.документация МГУ

Назначение:

Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.

Стоимость Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии запрашивайте по телефону или e-mail.